微米瑕疵無所遁形｜UIH 系列超高輝度檢測照明，點(diǎn)亮精密制造質(zhì)檢新高度

發(fā)布日期：2026-05-29      瀏覽次數(shù)：122

在半導(dǎo)體、光學(xué)玻璃、精密元器件等高1端制造領(lǐng)域，1μm 以下微氣泡、微劃痕、內(nèi)部異物、表面霧度，一直是困擾目視檢測的 “隱形殺手"。普通照明亮度不足、光路不均、易漏檢誤檢，嚴(yán)重拉低良率與品質(zhì)。

日本インテックス匠心打造的UIH 系列超高輝度檢測用照明裝置，以丁達(dá)爾效應(yīng)為核心，用極1致強(qiáng)光與專業(yè)光學(xué)設(shè)計(jì)，讓微缺陷清晰顯形，人人都能快速、穩(wěn)定完成高精度目視檢測，成為產(chǎn)線與實(shí)驗(yàn)室的質(zhì)檢利器。

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一、核心優(yōu)勢：強(qiáng)光 + 專業(yè)光學(xué)，缺陷一眼可見

1. 超高亮度，擊穿盲區(qū)

• 采用定制高輝度鹵素?zé)簦钆浯罂趶椒乔蛎嫱哥R，中心亮度最高可達(dá)60 萬 lux，光路規(guī)整、平行度優(yōu)異，微弱瑕疵瞬間強(qiáng)化對(duì)比。

• 亮度與照射徑成平方反比，小光斑更高亮，按需調(diào)節(jié)不浪費(fèi)光效。

2. 專業(yè)光學(xué)，精準(zhǔn)成像

• 非球面透鏡優(yōu)化設(shè)計(jì)，UIH?1/2/3 亮度型 F 值0.78–0.92，高亮聚光；UIH?1H 專用霧度檢測型F=2，聚焦成像，投射 3 條檢測標(biāo)記，靠對(duì)比度精準(zhǔn)判定晶圓霧度。

• 拋物面冷反光鏡，光效更高、散熱更優(yōu)，長時(shí)間穩(wěn)定工作。

3. 安全耐用，工業(yè)級(jí)可靠

• 燈箱與電源分體設(shè)計(jì)，散熱獨(dú)立、操作更安全。

• 強(qiáng)制空冷 + 過熱監(jiān)控：UIH?2/3 型超溫自動(dòng)熄燈，冷卻至 40℃自動(dòng)停扇，全面保護(hù)光源與設(shè)備。

• 緩啟緩滅點(diǎn)燈邏輯，大幅延長燈泡壽命，最高輝度壽命50–75 小時(shí)，半輝度壽命最長1800 小時(shí)，降低使用成本。

4. 靈活適配，全場景覆蓋

• 照射徑、高度、角度自由可調(diào)，支架分自立型 (UIH?1/1H) 與獨(dú)立型 (UIH?2/3)，適配不同工位與檢測臺(tái)。

• SCR 相位控制調(diào)光，50/60Hz 自動(dòng)適配，亮度寬幅可調(diào)，滿足不同材質(zhì)與缺陷檢測需求。

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二、四大機(jī)型，精準(zhǔn)匹配需求

表格

型號(hào)	功率	典型亮度	核心用途
UIH?1C/H	15V 150W	中心 60 萬 lux	通用微瑕疵 / 晶圓霧度專用檢測
UIH?2C	100V 300W	中心 40 萬 lux	中大面積光學(xué)件、玻璃檢測
UIH?3C	100V 650W	中心 30 萬 lux	大尺寸晶圓、面板、精密組件檢測

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三、一器多用，覆蓋全品類檢測

• 不透明鏡面體（晶圓 / 金屬 / 掩膜）：斜射查表面塵點(diǎn)、劃痕；反射查起伏、微裂紋。

• 透明材料（玻璃 / 透鏡 / 石英）：垂直 / 斜射，表面 + 內(nèi)部缺陷同時(shí)觀測，微氣泡、雜質(zhì)一目了然。

• 特殊場景：室內(nèi)浮塵檢測、透明容器化學(xué)反應(yīng) / 混合狀態(tài)觀測、拋光晶圓霧度判定。

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四、為什么選擇 UIH 系列？

• 看得清：丁達(dá)爾效應(yīng) + 超高輝度，1μm 級(jí)微缺陷不再漏網(wǎng)。

• 用得穩(wěn)：工業(yè)級(jí)溫控、緩啟緩滅、強(qiáng)制風(fēng)冷，長期高負(fù)荷不掉鏈。

• 調(diào)得靈：多角度 + 寬幅調(diào)光，一臺(tái)滿足多材質(zhì)、多工位檢測。

• 更省錢：長壽命光源 + 低維護(hù)，大幅降低質(zhì)檢綜合成本。

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面向未來，以光守護(hù)品質(zhì)

從半導(dǎo)體晶圓到光學(xué)鏡頭，從精密玻璃到高1端組件，UIH 系列以專業(yè)強(qiáng)光重新定義目視檢測標(biāo)準(zhǔn)，讓品質(zhì)管控更簡單、更穩(wěn)定、更高效。
選擇 UIH 系列，告別漏檢煩惱，提升良率與口碑，為你的精密制造筑牢品1質(zhì)第1道防線！